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IPB是中國歷史悠久、規模和影響力大的粉體展覽會，丹東百特連續18年參加了這個展會。在本屆IPB現場，百特展出了新的Bettersize3000plus 激光圖像二合一激光粒度粒形分析儀，銷售量多的Bettersize2600 干濕兩用激光粒度分析儀，以及*特色的動態圖像粒度粒形分析儀BT-2900、BT-Online在線激光粒度分析儀、智能粉體特性分析儀BT-1001等產品，吸引了眾多觀眾駐足參觀。
更值得一提的是，此次展會，百特還展出了新投放市場的納米粒度分析儀BT-90+，該儀器是百特新任產品總監寧輝博士帶領，在原BT-90納米粒度儀的基礎上進行了大幅度的性能和技術提升。該儀器有多達4000個通道，溫控范圍達-10~110℃，測試下限達0.4nm，樣品用量在40μl~1ml，并具有防冷凝功能，綜合性能指標達到國內外同類產品的先進水平，為廣大納米材料客戶提供更為精確高效的測試解決方案。
在本次IPB上，百特技術總監李雪冰博士做了題為《顆粒檢測技術的新進展和應用》的報告，為觀眾闡述了現行各式顆粒測試技術的利與弊，分析其發展前景，旨在為用戶找到更為適合的解決方案。李博士的報告通俗易懂且精彩絕倫，契合用戶實際的分享，贏得觀眾的熱烈掌聲。
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